Improving Yield on Testing Stations
Peltonen, Henri (2022)
Peltonen, Henri
2022
All rights reserved. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202203083221
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202203083221
Tiivistelmä
Tämän työn tarkoitus oli löytää juurisyitä kahden identtisen testiaseman saantoon. Työssä käy ilmi eri prosessit ja työ vaiheet, joiden avulla tavoite saavutettiin.
Kaikki datan keräyksessä käytetyt laitteet ovat Vaisalan laitteita. Laitteiden avulla monitoroitiin dataa, jonka perusteella tehtiin parannuksia prosesseihin. Näihin parannuksiin kuului testaus prosessin parantaminen, ohjeistuksen parantaminen sekä parannuksia työvälineisiin, joiden avulla käyttäjä pystyy havaitsemaan ongelmia testiasemissa.
Näiden vaiheiden avulla aseman saantoa saatiin parannettua pienentämällä hukka-ajojen aikaa yli annetun tavoitteen.
Kaikki datan keräyksessä käytetyt laitteet ovat Vaisalan laitteita. Laitteiden avulla monitoroitiin dataa, jonka perusteella tehtiin parannuksia prosesseihin. Näihin parannuksiin kuului testaus prosessin parantaminen, ohjeistuksen parantaminen sekä parannuksia työvälineisiin, joiden avulla käyttäjä pystyy havaitsemaan ongelmia testiasemissa.
Näiden vaiheiden avulla aseman saantoa saatiin parannettua pienentämällä hukka-ajojen aikaa yli annetun tavoitteen.