Laserskannerin ja takymetriskannerin mittaustekniset soveltuvuudet
Ylipaavalniemi, Hannu; Kuusela, Janne (2017)
Lataukset:
Ylipaavalniemi, Hannu
Kuusela, Janne
Lapin ammattikorkeakoulu
2017
All rights reserved
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2017060512327
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2017060512327
Tiivistelmä
Tämä työ on tehty Lapin ammattikorkeakoulussa keväällä 2017. Tässä työssä käsitellään laserskannereiden ja takymetriskannereiden mittausteknisiä soveltuvuuksia. Työn tarkoituksena on auttaa laserskannaukseen tutustumattomia maanmittausalan ammattilaisia hahmottamaan erilaisten laserskannereiden soveltuvuusalueet ja ottamaan laitteille tyypilliset heikkoudet ja vahvuudet paremmin huomioon.
Työssä käsitellään pistepilvien virheitä ja jälkikäsittelyä, eri etäisyydenmittausmenetelmiä ja erilaisten skannereiden soveltuvuuksia. Lisäksi aihealuetta lähestytään kyselyn ja käytännönkokeen avulla.
Takymetriskannereiden ja laserskannereiden välinen soveltuvuusraja ei ole täysin yksiselitteinen asia, koska pistepilven käyttötarkoitus ja suorittavien töiden kilpailulliset asetelmat vaikuttavat käytettävän laitteiston minimivaatimuksiin. Takymetriskannereiden suurin puute laserskannereihin verrattuna on hidas mittausnopeus, joka on rajoite tiheitä ja suuria pistepilviä mitattaessa. Opinnäytetyössä on arvioitu tarkemmin niitä seikkoja, jotka vaikuttavat kulloinkin käytettävän laitteiston valintaan.
Työssä käsitellään pistepilvien virheitä ja jälkikäsittelyä, eri etäisyydenmittausmenetelmiä ja erilaisten skannereiden soveltuvuuksia. Lisäksi aihealuetta lähestytään kyselyn ja käytännönkokeen avulla.
Takymetriskannereiden ja laserskannereiden välinen soveltuvuusraja ei ole täysin yksiselitteinen asia, koska pistepilven käyttötarkoitus ja suorittavien töiden kilpailulliset asetelmat vaikuttavat käytettävän laitteiston minimivaatimuksiin. Takymetriskannereiden suurin puute laserskannereihin verrattuna on hidas mittausnopeus, joka on rajoite tiheitä ja suuria pistepilviä mitattaessa. Opinnäytetyössä on arvioitu tarkemmin niitä seikkoja, jotka vaikuttavat kulloinkin käytettävän laitteiston valintaan.